A. Merfeldo daktaro disertacijos “Elektroninės aukštadažnės įrangos atsparumo spinduliuojamiems elektromagnetiniams trikdžiams tyrimas artimame lauke (metodikos sukūrimas ir taikymas)” gynimas

Autorius, institucija: Audrius Merfeldas, Kauno technologijos universitetas

Mokslo sritis, kryptis:  technologijos mokslai, elektros ir elektronikos inžinerija, T001

Mokslinis vadovas: Prof. Dr. Darius Gailius (Kauno technologijos universitetas, technologijos mokslai, elektros ir elektronikos inžinerija, T001) 

Elektros ir elektronikos inžinerijos mokslo krypties disertacijos gynimo taryba:
Prof. dr. Liudas Mažeika (Kauno technologijos universitetas, technologijos mokslai, elektros ir elektronikos inžinerija, T001) – pirmininkas
Prof. dr. Elena Jasiūnienė (Kauno technologijos universitetas, technologijos mokslai, elektros ir elektronikos inžinerija, T001)
Prof. dr. Wlodek J. Kulesza (Blekingo Technologijos institutas, Švedija, technologijos mokslai, elektros ir elektronikos inžinerija, T001)
Prof. dr. Jurij Novickij (Vilniaus Gedimino Technologijos Universitetas, technologijos mokslai, elektros ir elektronikos inžinerija, T001)
Prof. dr. Darius Viržonis (Kauno technologijos universitetas, technologijos mokslai, elektros ir elektronikos inžinerija, T001)

Disertacijos gynimas vyko nuotoliniu būdu.

Su disertacija galima susipažinti Kauno technologijos universiteto bibliotekoje (K. Donelaičio g. 20, Kaunas).

Anotacija:

Atsparumas spinduliuojamiems elektromagnetiniams (EM) trikdžiams ne tik privaloma elektroninės įrangos elektromagnetinio suderinamumo (EMC) testavimo ir gaminio sertifikavimo dalis, bet ir projektavimo bei technologinių sprendinių kokybės įvertinimas leidžiantis užtikrinti gaminio darbą nepriklausomai nuo aplinkoje esančių EM signalų bei trikdžių. Tai itin aktualu medicininėje, automobilinėje, aviacijos bei karinėje elektronikoje, kuomet trikdžių aplinkoje daug, o nuo prietaiso veikimo priklauso žmogaus saugumas ar net gyvybė. Nors akredituoti EMC laboratorijų testavimo metodai yra tikslūs ir patikimi, testuojant tolimo lauko sąlygomis neįmanoma lokalizuoti trikdžiams jautrių testuojamo gaminio vietų, o rezultatų informatyvumas labai ribotas.

Darbe pasiūlyti naujos konstrukcijos magnetinio artimo lauko zondas, adaptyvaus skenavimo aukščio metodika ir priemonės leidžiančios sudaryti jautrumo žemėlapius bei lokalizuoti EM laukams jautrias aukštadažnių įranginių plokčių vietas. Metadika detaliai ištirta įvertinant pagrindinių elektronikos komponentų, plokštės komponentų reljefo bei skenavimo aukščio įtaką magnetinio lauko -6dB apertūros dydžiui bei formai.

Sukurta metodika ir priemonės leidžia sudaryti didelės integracijos aukštadažnių elektronikos įranginių jautrumo žemėlapius skirtingiems dažniams ir lokalizuoti problemines vietas taip palengvinant analizę ir galimų sprendimų paiešką. Ji gali tapti puikiu įrankiu praplečiančiu EMC laboratorijų tyrimų ribas.