Tarpinstitucinis projektas su Lehigh universitetu, JAV: Naujų optinių defektoskopijos metodų polimerinėms plėvelėms, skirtoms poligrafinių gaminių ir pakuočių gamybai, sukūrimas

Pasiūlyti neardantys polimerinių plėvelių optinės defektoskopijos metodai: struktūriškai apibrėžtos šviesos(angl. structured light); geometrinio muaro, raibumų fotografijos, fototamprumo). Atlikta plonų plėvelių paviršiaus defektų analizė. Gautos tikrinės modos, kai plėvelių paviršius yra defektuotas ir be defektų. Nustatytas defektuotų plėvelių liekamųjų įtempių pasiskirstymas. Rengiamos rekomendacijos neardančiai plėvelės fizikinių parametrų kontrolei, gamybos technologinio proceso metu.

Projekto finansavimas:

Tarpinstituciniai projektai

Projekto rezultatai:

Kartu su JAV mokslininkais tarptautiniuose žurnaluose atspausdinti 5 straipsniai. Rengiamos rekomendacijos plėvelės neardančiai fizikinių parametrų kontrolei gamybos proceso metu.

Projekto koordinatorius: Kauno technologijos universitetas