V. Kleivaitės daktaro disertacijos “Didžiausios elektriniu verpimu pagmintų plonų gijinių dangų akutės įvertinimo metodas” gynimas

Autorius, institucija: Virginija Kleivaitė, Kauno technologijos universitetas

Mokslo sritis, kryptis: technologijos mokslai, medžiagų inžinerija – T008

Mokslinis vadovas: Prof. dr. Rimvydas Milašius (Kauno technologijos universitetas, technologijos mokslai, medžiagų inžinerija – T008)

Medžiagų inžinerijos mokslo krypties daktaro disertacijos gynimo taryba:
Prof. dr. Sigitas Tamulevičius (Kauno technologijos universitetas, technologijų mokslai, medžiagų inžinerija – T008) – pirmininkas
Dr. Juris Blums (Rygos technnologijos universitetas, Medžiagų inžinerija – T008)
Dr. Sigitas Krauledas (Fizinių ir technologijos mokslų centras, Medžiagų inžinerija – T008)
Prof. dr. Daiva Mikučionienė (Kauno technologijos universitetas, technologijos mokslai, medžiagų inžinerija – T008)
Prof. Dr. Jolita Ostrauskaitė (Kauno technologijos universitetas, Medžiagų inžinerija – T008)

Disertacijos gynimas vyks nuotoliniu būdu, norintys stebėti transliaciją kviečiami prisijungti čia.

Su disertacija galima susipažinti Kauno technologijos universiteto bibliotekoje (K. Donelaičio g. 20, Kaunas).

Anotacija:

Autoriai savo darbuose analizuoja įvairių parametrų įtaką elektrinio verpimo procesui ar nanogijinei struktūrai, tačiau dauguma jų neanalizuoja struktūros sandaros vienodumo, naudodamiesi matematiniais statistiniais kriterijais. Tokia situacija lemia skirtingas išvadas ir neįmanoma palyginti įvairių autorių darbų. Nepaisant daugybės elektrinio verpimo tyrimų, nanogijinės struktūros įvertinimo metodų trūksta. Iki šiol nebuvo sukurtas pluošto skersmens ir dangos akytumo matavimo bei įvertinimo metodas. Tokio metodo būtinybė yra akivaizdi, o jo nebuvimas gali turėti neigiamos įtakos elektrinio verpimo būdu gauto gaminio praktiniam naudojimui. Šioje disertacijoje visi bandymai ir jų rezultatai yra pateikiami nanogijinės dangos paviršiaus analizavimu ir eksperimentai taikytini tik labai plonoms (mažiau nei 1µm) dangoms. Gauti tyrimų rezultatai turi svarbią praktinę reikšmę, nes darbe pasiūlytas nanogijinės dangos vertinimo metodas leidžia įvertinti ir palyginti bet kokią elektrinio verpimo būdu suformuotą ploną gijinę struktūrą. Disertacijoje pasiūlytas naujas struktūros vertinimo metodas, nereikalaujantis daug skaičiavimų, paremtas santykine verte tarp didžiausios akutės ir vidutinės akučių vertės Δd. Sukurtas metodas patikrintas su įvairių polimerų nanogijinėmis struktūromis, esant skirtingiems rezultatų kiekiams. Įrodyta, kad sukurtą metodą galima taikyti įvairioms polimerinėms nanogijinėms dangoms.